探傷儀的發(fā)展及其廣泛應用

隨著電子工藝和軟件工藝的進一步發(fā)展，數(shù)字式超聲波探傷儀有著廣闊的發(fā)展發(fā)展。相信不久的將來，更加先進的新一代數(shù)字智能化超聲探傷儀將逐步取代傳統(tǒng)的模擬探傷儀，以圖像顯示為主的探傷儀將會在工業(yè)檢驗中得到廣泛應用。

　　目前某些數(shù)字或智能儀器已具有簡單手動B掃描功能，能示意性地顯示被檢工件的斷面圖像。隨著工藝的進步，將會有實用化帶有探頭位置信息輸入的B掃描和C掃描功能，甚至可在便攜式儀器上實現(xiàn)相控陣的B掃描和C掃描成像，使探傷結果像醫(yī)用B超一樣直觀可見。

　　超聲探傷缺陷定性歷來是一個疑難問題，至今仍主要依賴于探傷人員的經驗和分析判斷，準確性差?，F(xiàn)代人工智能學科的發(fā)展為實現(xiàn)儀器自動缺陷定性提供了可能。運用模式識別工藝和專家系統(tǒng)，把大量已知缺陷的各種特征量輸入樣品庫，使儀器接受人的經驗，并經過學習后而具備自動缺陷定性的能力。

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